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冲击试样缺口投影仪XT-50(CST-50)

冲击试样缺口投影仪XT-50(CST-50)随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验方法,对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm),
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冲击试样缺口投影仪XT-50(CST-50)

一、产品简介:

随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验方法,目前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械等行业已普遍采用夏比V型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验。对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm),故在整个试验过程中,试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题,如果试样缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是R0.25mm缺口尖端的微小变化(其公差带只有0.025mm),都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格,具缺口的加上质量检验是一个重要的质量控制手段。日前用光学投影放大检查是切实可行并能保证检查质量的方法。该仪器还可用于机械零部件的外形轮廓、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具的检验、仪表元件和半导体元件的投影检测。

二、工作原理

本投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏幕上。根据实际需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方向是一致的。

三、主要参数

投影屏直径:200mm;

工作台尺寸:

方工作台:110×125mm

圆工作台:90mm

工作台玻璃直径:70 mm

工作台行程:

纵向:10 mm

横向:10 mm

升降:12 mm(无刻度)

工作台转动范围:0 — 360°

仪器放大倍率:50×

物镜放大倍率:2.5×

投影物镜放大倍率:20×

光源(卤钨灯):12V/100W

电源:220V/50Hz

外形尺寸:515×224×603mm(长×宽×高)

重量:20kg

 

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