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冲击试样缺口投影仪(美标欧标3mm/5mmVU缺口投影仪)

冲击试样缺口投影仪(美标欧标3mm/5mmVU缺口投影仪)随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行GB/T229-2007《金属夏比冲击试验方法》对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm)
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 产品名称:冲击试样缺口投影仪(美标欧标3mm/5mmVU缺口投影仪)
型号:CT-50W
一、产品简介:
随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行GB/T229-2007《金属夏比冲击试验方法》对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm),故在整个试验过程中,试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题,所以在整个试验过程中,试样的加工是否合格会直接影响试验结果。如果试样加工质量不合格,那么其试验结果是不可信的,特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳,尤其是在试验的临界值时,会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格以及仲裁复查的方便,其质量检验是一个重要的控制手段,目前,我公司通过电子光学投影技术检验实现了切实可行的方法。
 二、性能特点:该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓投射到CMOS上,经由采集卡传输到PC,再由分析软件计算出缺口深度、缺口角度、缺口根部半径的数值,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观,消除了不同使用人员之间的操作误差,保存数据为以备日后复查提供可可靠地数据。
三、冲击试样缺口投影仪测量功能
      1、冲击试样V型缺口精确测量
      2、冲击试样缺口U型精确测量
      3、美标、欧标V/U型缺口测量
      4、3mm/5mm(V/U型缺口)测量

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